referat fotoelasticimetrie

download referat fotoelasticimetrie

of 10

Transcript of referat fotoelasticimetrie

  • 7/31/2019 referat fotoelasticimetrie

    1/10

    FOTOELASTICIMETRIE

    Rezistenta materialelor

    L.E. 1

    Nume: Radu Ionut Gabriel

    Sectia: AR

    An: II

    Grupa: 2426/1

  • 7/31/2019 referat fotoelasticimetrie

    2/10

    1.Bazele teoretice ale fotoelasticimetriei

    1.1 Principiul metodei

    Metoda fotoelastica de studiu a tensiunilor (fotoelasticimetria) face parte din categoria i

    ncercarilor pe modele. Cu aceasta metoda se poate determina starea de tensiune in fiecare punct

    al unui model dintr-un material transparent, geometric asemenea cu piesa studiata. Solicitarea

    modelului trebuie sa fie si ea similara cu a piesei reale. Aplicand legile similitudinii se poate de

    termina apoi starea de tensiune in organul de masina sau elementul de constructie studiat.

    Fotoelasticitatea este proprietatea de birefrigenta (dubla refractie) accidentala a unor ma

    teriale trasnparente numite optic active. Aceste materiale, care in stare netensionata sunt izotrop

    e , devin birefrigente in stare tensionata, conform legii calitative a fotoelasticitatii. O raza de lu

    mina polarizata trecand printr-o placa din material optic activ, solicitata in planul propriu, este

    descompusa in 2 vibratii paralele cu directiile principale in punctul considerat.

    Cele 2 vibratii se propaga cu viteze diferite, astfel ca la iesirea din model ele au o difere

    nta de drum optic. Potrivit legii cantitative a fotoelasticitatii, diferenta de drum optic este propo

    rtionala cu diferenta tensiunilor principale.

    Unde: C constanta fotoelastica a materialului

    d grosimea materialului

    tensiunile principale in punctul considerat

    Fenomenul poate fi pus in evidenta in lumina polarizata. Se stie ca spre deosebire l

    umina naturala care se transmite prin vibratii trasnversale care se produc in toate planele ce trec

    prin directia de propagare, lumina polarizata se transmite prin vibratii trasnversale care se prod

    uc intr-un plan , numit de vibratie, perpendicular pe planul de polarizare.

    Lumina polarizata se poate obtine, printre altele, cu ajutorul filtrelor polarizante. Fil

    trele polarizante se polaroizii se obtin prin inglobarea intr-o masa plastica a unor cristale micros

    copice ce proprietati dicroice; cristalele sunt orientate cu axele lor optice in aceeasi directie.

    Modelele se confectioneaza din sticla organica (stiplex) sau din rasini epoxidice.

  • 7/31/2019 referat fotoelasticimetrie

    3/10

    1.2 Instalatia de fotoelasticimetrie

    Un aparat pentru studiul modelelor in lumina polarizata, numit polariscop este repr

    ezentat schematic in fig 1.1. El se compune dintr-o sursa de lumina S, un sistem de lentile L, ca

    re creeaza un fascicul paralel de raze si respectiv proiecteaza imaginea pe ecranul E, din polaroi

    zii P si A, cu axele optice perpendiculare, intre care se plaseaza modelul M.

  • 7/31/2019 referat fotoelasticimetrie

    4/10

    Dupa ce strabate primul polaroid P, numit si polarizor, fasciculul luminos este compus

    din vibratii care se produc numai in planul paralel cu axa optica a polaroidului.

    Daca acest fascicul de lumina polarizata intalneste modelul tensionat, in fiecare punct al

    modelului raza incidenta se descompune dupa directiile principale si . Pentru intelegerea fu

    nctionarii unei asemenea instalaltii, se considera un model solicitat uniform pe laturi astfel ca di

    rectiile principale coincid cu axele si .

    Daca urma planului in care se produc oscilatiile este axa y, pe aceasta axa se reprezinta

    amplitudinea oscilatiilor printr-un vector (fig 1.2).

    Ecuatia oscilatiei este de forma:

    , unde a este amplitudinea oscilatiei, pul

    satia, iar T perioada.

    Componentele dupa directiile axelor principale sunt:

  • 7/31/2019 referat fotoelasticimetrie

    5/10

    Daca axa optica a celui de-al doilea polaroid, analizorul A este paralela cu axa x, vi

    bratia rezultata la iesirea din analizor se obtine prin insumarea componentelor lui si dup

    a axa x.

    Intensitatea luminoasa fiind egala cu patratul amplitudinii

    se observa ca ecranul nu va fi luminat uniform, intensitatea luminoasa, in fiecare punct, fiind fu

    nctie de:

    Prima din conditii este indeplinita atunci cnad axele optice ale polaroizilor sunt paralele

    cu directiile principale: sau

  • 7/31/2019 referat fotoelasticimetrie

    6/10

    Locul geometric al punctelor care, pentru o anumita pozitie a polaroizilor, satisfac aceas

    ta conditie este o curba care poarta numele de izoclina, deoarece dealungul ei tensiunile au acee

    asi inclinare, egala cu inclinarea axelor optice ale polaroizilor. Prin rotirea simultana a polaroizi

    lor se poate obtinefamilia de izocline cu o desime convenabila.

    A doua din conditii este indeplinita pentru valori intregi k ale raportului .

    In cazul studiului in lumina monocromatica relatia este satisfacuta pentru anumite valor

    i ale diferentei de drum optic , care la randul ei corespunde unei anumite valori a diferentei te

    nsiunilor principale. Locul geometric al punctelor de egala diferenta a tensiunilor principale est

    e curba numita izocromata. Fiecarei valori k ii corespunde o izocromata (k indica numarul de

    ordine al izocromatei).

    1.3 Studiul tensiunilor prin metoda fotoelastica

    S-a aratat ca prin metoda fotoelastica se obtin doua familli de curbe: izoclinele, cu ajuto

    rul carora se pot determina directiile tensiunilor principale in lungul carora se cunoaste diferent

    a a tesiunilor principale.

    Din epura izoclinelor, care se traseaza pentru pozitii ale polaroizilor incrucisati care vari

    aza din in sau din in , se pot trasa traiectoriile tensiunilor principale. Exista mai

    multe metode grafice pentru trasarea acestor traiectorii, din care se va descrie una in care se con

    sidera ca, intre doua izocline, izostatica este un arc de cerc. Directiile principale trasate pe acest

    e izocline trebuie sa se intersecteze in aceste caz in segmente egale.

    Pentru a usura constructia se traseaza curba egal departata de doua izocline vecine.

    In fig 1.3 seunt reprezentate izoclinele corespunzatoare unghiurilor , dintr

    e directiile principale si reperul initial. Pentru a trasa izostatica ce trece prin punctul M, se duce

    paralela la directiile pana la interesectia cu curba cu curba ajutatoare in punctul N. Din acest

    punct se traseaza paralela la directia pana la a doua curba ajutatoare in punctul P si asa mai

    departe.

  • 7/31/2019 referat fotoelasticimetrie

    7/10

    Infasurata acestor directii este una de izostaticele ce trec prin punctul M. Prin acelasi pu

    nct trece si izostatica de parametru .

    Se pot trasa un numar destul de mare de izostatice astfel incat sa se poata determina dire

    ctiile principale in orice punct al modelului.

    Pentru a calcula si marimea tensiunilor in afara de valorile diferentelor , obtinu

    te din izocromate, mai este necesara o ecuatie, de exemplu cea a sumei tensiunilor principale.

    Suma tensiunilor principale se poate determina prin masurarea deformatiilor transversal

    e ale modelului cu ajutorul unor tensiometre speciale.

    O alta posibilitate de determinare a sumei tensiunilor principale consta in utilizarea anal

    ogiei electro-optice. Aceasta metoda se bazeaza pe observatia ca solutiile unor compusi organic

    i devin birefringente intr-un camp electric.

    Pentru determinarea sumei tensiunilor principale se realizeaza o cuva din material trans

    parent avand forma piesei studiate si prevazuta cu electrozi pe care se aplica o tensiune V, care

    modeleaza solicitarea piesei. Cuva se umple cu o solutie de colorant organic care intr-un camp

    electric devine birefringenta.

    Intr-un polariscop circular se pot pune in evidenta curbe de extinctie care sunt locul geo

    metric al punctelor de acelasi gradient al tensiunilor electrice.

    Experientele arata ca intre ordinul franjei (curbei de extinctie) si gradientul tensiunii nu

    este o relatie liniara. Trebuie determinata o curba de etalonare. Pentru etalonarea solutiei se foloseste o cuva in forma de sector de cerc cu electrozii plasati pe fetele radiale.

  • 7/31/2019 referat fotoelasticimetrie

    8/10

    Gradientul de tensiune in lungul unei curbe de extinctie se poate calcula prin impartirea

    tensiunii aplicate electrozilor cu lungimea arcului de cerc corepsunzator. Astfel se poate trasa c

    urba de etalonare.

    De o deosebita importanta practica este determinarea tensiunilor pe conturul pieselor.

    Determinarea tensiunilor se bazeaza pe observatia ca pe un contur neincarcat, una din te

    nsiunile principale este tangenta la contur, iar tensiunea normala pe contur este nula.

    In punctul de intersectie al izocromatelor cu conturul piesei se pot gasi deci tensiunile p

    rincipale se si poate trasa curba de variatie.

    Pe contur apar, in general, tensiunile maxime, astfel ca, din punct de vedere practic aces

    tea prezinta ce mai mare interes.

    In afara de studiile pe modele aflate in stare plana de tensiuni s-au elaborat metode de st

    udiu si pentru modelele spatiale, ca de exemplu metoda inghetarii tensiunilor.

    1.4 Fotoelasticimetria spatiala

    Starea de tensiune spatial intr-un corp poate fi studiata prin fotoelasticimetrie folosi

    nd metoda inghetarii tensiunilor.

    S-a constatat ca unele materiale plastice prezinta proprietatea de a ingheta defor

    matiile primite la o temperatura ce depaseste o valoare critica (temperatura de inmuiere). Dacaun model spatial dintr-un astfel de material se solicita la o temperatura ridicata si apoi, mentina

    nd sarcina, se raceste treptat pana la termperatura ambianta, deformatiile primite se mentin si, d

    e asemenea, se mentine si proprietatea de birefringenta primita de material in timpul solicitarii.

    Modelul poate fi taiat in fasii cu fete paralele care pot fi studiate intr-un polariscop ca si modele

    le plane.

    Capacitatea acestor materiale de a ingheta starea de deformatii se explica prin structur

    a lor moleculara. Macromoleculele filiforme ale acestor materiale sunt legate intre ele prinlegat

    uri stabile laterale care desavarsesc la polimerizare.

    In afara de aceste legaturi stabile exista un al doilea sistem de legaturi care dispar peste

    temperatura numita de inmuiere, iar materialul este capabil de deformatii elastice mai mari deca

    t la temperatura ambianta.

    Intrucat legaturile secundare exista in intreaga masa a materialului, starea de deformatie

    se pastreaza si dupa sectionarea materialului.

    Studiul starii de tensiune intr-un model spatial este usurat daca se cunosc directiile princ

  • 7/31/2019 referat fotoelasticimetrie

    9/10

    ipale. In acest caz se prelucreaza astfel fasiile incat fetele lor sa fie paralele cu planele principal

    e. Se poate arata ca ordinul izocromatei care apare la iluminarea in directia tensiunii principale

    nu este functie decat de diferenta tensiunilor pe celalalte doua directii principale.

    1.5 Aplicatii

    Biomecanica

    Elementele de legatura, in termeni de rezistenta mecanica, incluse in scheletul osos,

    care sunt solicitate de forte exterioare sunt deformate, si ca o consecinta, in interiorul acestor

    elemente apare o stare de tensiuni care este determinata de fortele care tin legate particulele

    unui solid. Studiul este realizat pe un model plan care reprezinta o fasie longitudinala a

    extremitatii superioare a osului femural realizat din rasina epoxidica. Studiul analizeaza

    distributia frajelor de lumina care apar in urma solicitarii la compresiune si incovoiere in plan

    vertical a modelului folosind metoda fotoelasticimetriei in analiza experimentala si si metoda

    elementului finit pentru analiza numerica.

  • 7/31/2019 referat fotoelasticimetrie

    10/10

    Bibliografie

    [1] Analiza experimentala a tensiunilor, coordonator prof.dr.ing. D.R. Mocanu, Buc

    uresti, Ed. Tehnica, 1977

    [2] Rezistenta materialelor si teoria elasticitatii, I. Pastrav, Cluj-Napoca, Atelierul d

    e multiplicare al Institutului Politehnic, 1993

    [3] Notiuni de fotoelasticimetrie, I. Pastrav, Cluj-Napoca, Atelierul de multiplicare

    al Institutului Politehnic, 1972

    [4] Analogia electro-optica metoda auxiliara in fotoelasticimetrie, I. Pastrav, Stud

    iu si cercetari de Mecanica Aplicata, 33, nr. 3, 1974

    [5] Metode optice de analiza a tensiunilor Lucrari de laborator, I. Pastrav, Mircea

    Cristian Dudescu, Ed. U.T. Press, Cluj-Napoca, 2009