L5_Masurarea deplasarilor

5/17/2018 L5_Masurarea deplasarilor - slidepdf.com

http://slidepdf.com/reader/full/l5masurarea-deplasarilor 1/34

MASURAREA

DEPLASARILOR



MASURAREA DEPLASARILOR

UNITĂŢI DE MĂSURĂ

1in (inch)=0,0254m = 2,54 cm = 25,4 mm;

1mlm (mila marină) = 1854 m;

1p (punct tipografic) =0,376065x10-3

m 1cic (cicero) = 12 p;

1cv (cuadrat) = 4 cic =48p.

Unităţile de măsură tolerate:

METRUL




CLASIFICAREA MIJLOACELOR DE MĂSURĂ PENTRU LUNGIMI:

1. Măsuri cu repere: • Metrul etalon- prototipul naţional confecţionat dintr -un

aliaj de 90%platină şi 10% iridiu, cu simbolul 6c, ce are lacapete 3 repere, distanţa dintre reperele centrale fiind de1m la 20C.

• Ruleta; • Rigla; • Panglica topografică.

2. măsuri terminale (fără repere) : • Cale plan-paralele; • Calibre – de interstiţii; • Şabloane – pentru filete (lere), pentru raze.

3. aparate: • Cu riglă şi cursor = şublere;

• Cu şurub micrometric = micrometrul.




MIJLOACE DE MĂSURĂ PENTRU LUNGIMI:

şubler ul

Vernier

0 1 2 34

0 5 10

Rigla

0 1 2 34 5

0 25 50 75 100

0 10 20 30 4050

0 10 20 30 40 50 60 70

80 90 100




0 5 10 1520 25

35

30

25

20

0 5 10 15 20

20

15

10

5

19,75 mm 14,10 mm


micrometrul





Ceasul comparator

Intervalul măsurat: 0 ÷ 10 mm

Valoare diviziune cadran rotitor: 0,01 mm

Valoare diviziune cadran fix: 1 mm

Abaterea de măsurare: ± 0,005 mm





Ceasul comparator

Cu ajutorul ceasului comparator se poat verifica/măsura:

‐ Abaterile de la paralelism a suprafețelor rectificate;

‐ Planeitatea suprafețelor;

‐ Abaterile de la cilindricitate;

‐ Bătăile radiale sau frontale.




TRADUCTOARE PENTRU MASURAREA DEPLASARILOR

• traductoarele rezistive (potentiometrice),

• inductive,• capacitive,• selsinele,• traductoare piezoelectrice,

• cu radiatii,• numerice,• de proximitate, s.a.





a. palpator,b. pârghie,

c. consola,

d. cuplaj indirect

Traductoarele mecanice de captare





Traductoare rezistive





Traductoare inductive

LINII DE

CAMP





Traductoare inductive





Traductoare inductive diferentialecu miez mobil





Traductoare inductive diferentialecu armatura mobila





Traductoare inductive cu transformator

Secundar

stanga

Secundar

dreapta

Primar





Traductoare inductive cu transformator

E c1 E c2

/4

R

C

E R

INDUCTOSINUL LINEAR





Traductoare capacitive





Traductoare piezoelectrice

Traductorul este alcatuit dintrun material piezoelectric,prelucrat în mod special, pe fetele caruia se depuneun strat subtire de argint coloidal cu scopul de a culegesarcinile electrice formate când elementulpiezoelectric se supune unor deformatii mecanice






Aceste tipuri de traductoare pot fi folosite la masurarea distantelor sau deplasarilorde regula liniare, bazându-se pe proprietatea de propagare a radiatiilor în timpsi interactiunea acestora cu mediile în care se propaga. Aceste radiatii pot fi:optice, acustice, electromagnetice sau nucleare.






Traductorul piezoelectric cu ultrasunete, se compune din carcasa metalica 1, în interiorul careia se monteaza pastila piezoelectrica 2 (materiale cristaline:cuart sau materiale amorfe –titanatul de bariu, titanatul de zirconiu) pe care

sunt plasate doua armaturi metalice 3.Placa izolatoare 4 protejeaza traductorul de mediul de contact, putând avea sirolul de transformator acustic prin adaptarea impedantei acustice a traductoruluila mediul de propagare. Prin alimentarea traductorului cu o tensiune alternativa între conductorul 5 si carcasa, sub actiunea câmpului electric alternativ creat,prin efect piezoelectric, pastila se va deforma




MASINI PENTRU MASURAREA DEPLASARILOR

Sistemele optice de măsură oferă soluţii complete pentru verificarea pieselor mici. Ele sunt sisteme non-contact, fiind concepute ca sisteme de scanare,proiectoare de profile, microscoape şi accesorii.TESA oferă o familie completă de senzori electronici şi soluţii complete(de stocare, procesare şi evaluare a datelor) pentru cele mai complexe aplicaţii.





Traductoare OPTICE

SD

L l1l2

D2

D1

O1

O2

S

INTERFEROMETRUL CU LASER

În interferometrul Michelson(distanţele dintre divizorul de fascicol(beam-spliter) BS şi oglinzile O1 , O2sunt l1 respectiv l2 .Observarea sistemului de franje se face în punctul SD , iar sursa de lumină SD

este considerată cvasimonocromatică,





Sistemele optice de măsură

Sistemul de măsurare tridimensional “Leica” cu laser s-a adaptat nevoilorde precizie de măsurare, funcţionând pe principiul reflexiei într -un volum de măsură de până la 40 m, fiind echipat cu endcoder unghiular orizontal şi vertical,foarte precis pentru măsurarea unghiurilor şi interferometru

pentru măsurarea precisă a distanţelor.





Proiectoare de profile se folosesc pentru verificarea formei unui profil. În cazul utilizării metodei proiecţiei, se realizează pe cale optică imaginea reală

şi mărită a măsurandului, imagine care se compară cu profilul dat. Microtehnica a fost prima firmă din lume care în 1954 a realizat un proiector de profile cu ecran cu diametrul de 1000 mm. Versiunea Cyclop -1conţine dispozitive ce beneficiază de tehnica de ultima oră, în ceea ce priveşteaşezarea corpului proiector în faţa fascicolului de lumină. Această soluţie de construcţie oferă avantajul unei precizii mai mari pe axele X-Y

ale mesei, întrucât nu sunt influenţate de mişcările pe verticală ale mesei





Sisteme de conectare fără fir sunt module de transmisie prin radio a datelormăsurate către portul USB al computerului. Modulele miniaturizate cu transmisie prin radio reprezintă o tehnologie nouă care elimină cablurile de date şi interfeţele conectate la computer



Micro si nanotehnologii de control al topografiei suprafetelor – rugozitate si contur

Domeniu de măsurare X, Z:

120/1 mm [rugozitate]

Domeniu de măsurare X, Z:

120 / 28 mm [contur]

Rezolutie detector: 8 nm / 0,5 mm

Rezoluţie pe Z: 17 nm



Micro si nanotehnologie de control non-contact al topografieisuprafetelor – topografie 3D

•Domeniu max. de scanare X, Y: 50 × 50

μm

• Domeniu max. de scanare pe Z: 12 μm

• Rezolutie: < 0,6 nm (cu bucla inchisa),

< 0,01 nm (fara bucla inchisa)

•Abaterea de planeitate: max. 2 nm pe un

interval orizontal de 50 microni, fara

corectii software

•Cap AFM cu dioda super-luminiscenta(835 nm)

• Marire: 780× (pe monitor de 19 inch) ;

• Rezolutie optica: 1 μm

•Focalizare motorizata, controlata prin

software, pe o adancime de 10 mm

• Camera digitala CCD de inalta rezolutiecu zoom digital

• Rezolutie 1032 × 778 pixeli

• Viteza cadrelor: 20Hz ;

• Viteza procesor controller: > 500 MHz



Micro si nanotehnologie de control micro-nanodimensionalal reperelor industriale: – profile

Când se folosesc lentilele de 5x, sepoate proiecta un câmp de 100mm

diametru;

Lentilele de proiecţie de înaltă

performanţă şi becul cu halogen al

unui sistem de iluminare telecentric

conferă o descriere reală si de mare

acurateţe;

Este încorporat un numarător

digital de unghi care creşte uşurinţa

în utilizare;

Domeniu de măsurare:

0÷200 mm [axa X];

0÷100 mm [axa Y]; Rezolutie: 1 µm



Micro si nanotehnologie de control micro-nanodimensionalal reperelor industriale: –inspectie liniara si unghiulara

Incertitudine de masurareoX,Y: U=max.(1,9+5L/1000) μm oZ: U=max.(2,5+5L/1000) μm, cu L în mm

Domeniu de masurare: X 300 mm, Y150 mm, Z 140 mmRezolutie sistem de măsurare: 100 nm

Software-ul permite:• recunoaşterea automată a caracteristicilor;• generarea unui raport;• capturarea video a imaginii în format “jpg” sau “bmp” cu capabilităţile de raportaregrafică;

• importarea datelor (fisiere de tip “dxf” sau“iges”) pentru programarea şi exportarea lor;



Micro si nanotehnologie de control micro-nanodimensional alreperelor industriale: -3D

• Incertitudine de măsurare:

U=(0,9+L/350) µm cu L în mm

• Domeniu de măsurare X x Y x Z:

1000 x 700 x 560 mm

• Rezoluţie: 50 nm

Micro-nanotehnicile de verificat pe

maşina de măsurat în coordonate 3D Leitz

Reference 600 – Germania asigura o precizie

ridicata potrivită pentru inspecţia geometriilor standard (blocuri cilindrice,

cutii de viteză ) precum şi pentru masurarea

geometriilor speciale de orice tip, cum ar fi

arborii cu came, compresoare cu şurub şi

multe altele. Este folosită de asemenea

pentru verificarea roţilor dinţate

L5_Masurarea deplasarilor

Documents

Transcript of L5_Masurarea deplasarilor