7 Ultimul Curs

17
CAPITOLUL 6 186 ____________________________________________________________________ DISPOZITIVE CONVERTOARE FOTON-ELECTRON 6.1 Introducere Conversia foton–electron este necesară în prezent din cel puţin două motive. În primul rând optoelectronica nu şi-a dezvoltat încă o instrumentaţie de măsură proprie şi apelează, deocamdată, la această conversie urmată de măsurări pur electronice. În al doilea rând în casele şi în birourile noastre de lucru toate receptoarele funcţionează încă pe electroni (telefon, radio, televizor, PC, … ) astfel încât informaţia primită pe fibră optică pe purtătoare fotonică trebuie convertită pentru a fi compatibilă cu aceste receptoare clasice. Conversia foton-electron poate fi realizată cu două tipuri de dispozitive: - dispozitive termice în care absorbţia fluxului de fotoni este urmată de creşterea temperaturii dispozitivului şi de modificarea unei proprietăţi de material (de exemplu rezistivitatea sau starea de polarizaţie); aceste dispozitive nu sunt selective şi în general au inerţie mare; - dispozitive cuantice (electronice) în care absorbţia fluxului de fotoni este însoţită de excitarea electronilor pe nivele energetice superioare (fie din banda de valenţă în banda de conducţie, fie chiar de extragerea electronilor din cristal în vidul dispozitivului); aceste dispozitive pot avea inerţii foarte mici.

description

DISPOZITIVE CONVERTOARE FOTON-ELECTRON

Transcript of 7 Ultimul Curs

  • CAPITOLUL 6

    186 ____________________________________________________________________

    DISPOZITIVE CONVERTOARE

    FOTON-ELECTRON

    6.1 Introducere

    Conversia fotonelectron este necesar n prezent din cel puin dou

    motive. n primul rnd optoelectronica nu i-a dezvoltat nc o

    instrumentaie de msur proprie i apeleaz, deocamdat, la aceast

    conversie urmat de msurri pur electronice. n al doilea rnd n casele i n

    birourile noastre de lucru toate receptoarele funcioneaz nc pe electroni

    (telefon, radio, televizor, PC, ) astfel nct informaia primit pe fibr

    optic pe purttoare fotonic trebuie convertit pentru a fi compatibil cu

    aceste receptoare clasice.

    Conversia foton-electron poate fi realizat cu dou tipuri de

    dispozitive:

    - dispozitive termice n care absorbia fluxului de fotoni este urmat

    de creterea temperaturii dispozitivului i de modificarea unei proprieti de

    material (de exemplu rezistivitatea sau starea de polarizaie); aceste

    dispozitive nu sunt selective i n general au inerie mare;

    - dispozitive cuantice (electronice) n care absorbia fluxului de

    fotoni este nsoit de excitarea electronilor pe nivele energetice superioare

    (fie din banda de valen n banda de conducie, fie chiar de extragerea

    electronilor din cristal n vidul dispozitivului); aceste dispozitive pot avea

    inerii foarte mici.

  • CAPITOLUL 6

    __________________________________________________________________ 187

    6.2 Dispozitive convertoare cuantice cu jonciuni

    semiconductoare

    Fie o jonciune semiconductoare pn la echilibru termodinamic

    (fig. 6.1,a) cu regiunea de sarcin spaial de dimensiune W i cmpul intern

    iE .

    Aplicnd un flux de fotoni o acestei structuri, o parte din acest flux

    va fi reflectat ( oR unde R este coeficientul de reflexie depinznd de

    lungimea de und a radiaiei), n semiconductor penetrnd la x = 0 fluxul

    o 1 R .

    Dac W , acest flux va fi absorbit n semiconductor genernd

    perechi electron gol (fie coeficientul de absorbie).

    Deci n adncime rezult:

    xox 1 R e

    (6.1)

    WF

    WC

    WV

    qVB

    a

    W

    p n

    q(VB VL)

    qVL

    b

    W

    p n

    0

    x

    R 0 0

    Fig. 6.1. a jonciune pn la echilibru termodinamic i structura zonelor sale energetice

    b jonciune pn sub aciunea unui flux de fotoni 0 i

    strutura zonelor sale energetice

    iE iE

  • CAPITOLUL 6

    188 ____________________________________________________________________

    Purttorii de sarcin minoritari de neechilibru generai de o parte i

    de alta a zonei de sarcin spaial de ctre x vor fi accelerai de ctre

    cmpul intern spre regiunile cu purttori majoritari de acelai tip. Trecnd

    prin zona de sarcin spaial, aceti purttori determin apariia unui curent

    IL al crui sens corespunde cu sensul curentului direct din jonciune.

    a

    0

    a

    0L e1R1dxx~I

    (6.2)

    unde: - randamentul cuantic de generare (numrul de perechi electron-

    gol generai pe numrul de fotoni incideni);

    a adncimea maxim de ptrundere a fluxului de fotoni n

    semiconductor.

    Electronii i golurile de neechilibru

    care tranziteaz zona de sarcin spaial

    determin apariia unui cmp electric orientat

    n sens invers cmpului intern. Bariera de

    potenial qVB (unde q este sarcina

    elementar) se va micora cu qVL (figura

    6.1,b), ca i cnd jonciunea ar fi polarizat

    direct cu tensiunea VL (figura 6.2).

    nchiznd circuitul pe rezistena de sarcin RL rezult:

    VL = I RL (6.3)

    Ls L

    qVI I exp 1 I

    kT

    (6.4)

    unde Is este curentul de saturaie de ntuneric.

    n regim de gol 0LR ,I din (6.4) rezult:

    LL

    s

    IkTV ln 1

    q I

    (6.5)

    Fig. 6.2. Jonciune pniradiat nchis perezistena de sarcin RL

    VL

    p n

    I

    0

    RL

  • CAPITOLUL 6

    __________________________________________________________________ 189

    n regim de scurt (RL = 0, VL = 0) rezult

    LI I

    Jonciunea semiconductoare din figura 6.2 poate fi utilizat n trei

    regimuri:

    - polarizare direct, figura 6.3,a (neindicat deoarece curentul direct

    al jonciunii mascheaz curentul IL produs de fotoni);

    - polarizare invers, figura 6.3,b (regimul de fotodiod);

    - fr polarizare, figura 6.3,c (regimul de celul solar).

    6.3 Fotodiode semiconductoare

    Dac jonciunea semiconductoare este polarizat cu tensiunea

    invers U (regim de fotodiod) curentul prin jonciune va avea expresia:

    Ls L

    qV qUI I exp 1 I

    kT

    (6.6)

    U

    p n

    R

    -+

    0

    U

    I

    a

    U

    p n

    R

    - +

    0

    U

    I

    b

    I

    U

    p n

    RL

    0

    U

    I

    c

    I

    Fig. 6.3. Cele trei regimuri de funcionare a unei jonciuni pn iradiate:a-polarizare direct;b-polarizare invers;c-fr polarizare.

  • CAPITOLUL 6

    190 ____________________________________________________________________

    Alegnd LVU i kTqU expresia 6.6 devine:

    s LI I I (6.7)

    Dac valoarea curentului de

    ntuneric Is tinde ctre zero, din relaia 6.2

    rezult:

    0L ~II (6.8)

    relaie de proporionalitate care se

    pstreaz aproximativ 9 ordine de mrime.

    Rezult deci c o fotodiod de

    calitate trebuie alimentat cu o tensiune

    invers ct mai mare n valoare absolut

    (aproape de limita de strpungere a jonciunii) i trebuie s aib un curent de

    ntuneric ct mai mic. Acest ultim deziderat se asigur prin urmtoarele:

    - folosirea unui semiconductor de nalt puritate, fr defecte n

    reeaua cristalin n special n zona de sarcin spaial, adic fr fenomene

    de generare recombinare n volumul acestei zone;

    - pasivarea suprafeelor libere ale jonciunii semiconductoare, deci

    reducerea la minim a conduciei de suprafa.

    Pentru o fotodiod se definete responsivitatea monocromatic

    0

    L

    SI

    (6.9)

    care din (6.2) devine:

    ae1R1~S (6.10)

    Pentru o responsivitate ct mai mare trebuie acionat asupra celor trei

    factori ai relaiei (6.10).

    Randamentul cuantic de generare , fr a lua msuri deosebite,

    este mai mare dect 0,9.

    Is

    Is+IL1

    Is+IL202

    01

    0=0I

    U

    Fig. 6.4. Dependenacurent-tensiune a uneifotodiode

  • CAPITOLUL 6

    __________________________________________________________________ 191

    Din pcate coeficientul de reflexie R este destul de mare

    (aproximativ 0,3) din cauza indicelui de refracie mare al materialelor

    semiconductoare folosite. Pentru reducerea coeficientului de reflexie se

    folosete, ntotdeauna, un strat antireflectant (figura 6.5). Dac se alege gro-

    simea acestui strat

    01

    1

    d4n

    (6.11)

    coeficientul de re-

    flexie devine

    22

    1 0 2

    min 22

    1 0 2

    n n nR

    n n n

    .

    Impunnd pentru stratul antireflectant un indice de refracie

    1 0 2n n n la lungimea de und 0 rezult Rmin = 0.

    n jurul acestei lungimi de und favorite coeficienii de reflexie au

    valori de ordinul

    0,06 0,1.

    Pentru a ob-

    ine rezultate i

    mai bune se pot

    folosi dou stra-

    turi antireflectan-

    te (figura 6.6).

    Grosimile acestora se aleg :

    01

    1

    d4n

    (6.12)

    strat antireflectant(AR)

    semiconductor

    0n0

    n1

    n2

    d1

    R 0

    Fig. 6.5. Strat antireflectant pesuprafaa semiconductorului

    strat antireflectant(AR1)

    strat antireflectant(AR2)

    semiconductor

    0n0

    n1

    n2

    n3

    d2

    d1

    R 0

    Fig. 6.6. Strat antireflectant dublu pesuprafaa semiconductorului

  • CAPITOLUL 6

    192 ____________________________________________________________________

    02

    24d

    n

    (6.13)

    pentru care coeficientul de reflexie devine:

    22 2

    1 3 2 0

    min 22 2

    1 3 2 0

    n n n nR

    n n n n

    Alegnd materialele straturilor astfel nct 2 21 3 2 0n n n n se obine la

    lungimea de und 0 un Rmin=0. n jurul acesteia Rmin=0,04 0,06.

    Tehnologia straturilor antireflectante, singura posibil, este destul de

    delicat n primul rnd prin natura materialelor care s aib indicele de

    refracie corespunztor (oxid, dioxid sau nitrur de siliciu, oxizi de

    aluminiu, titan sau tantal) i n al doilea rnd prin grosimea riguros

    controlat a stratului (sute de nanometri, relaiile (6.11) (6.13)).

    Din relaia (6.10) rezult c responsivitatea monocromatic S crete

    mult dac semiconductorul ales are un coeficient de absorbie mare pentru

    lungimile de und dorite

    ale fasciculului de fotoni.

    n figura 6.7 sunt

    reprezentate grafic depen-

    dena coeficientului de

    absorbie de lungimea de

    und pentru semicon-

    ductoarele Ge, Si, GaAs,

    In0,7Ga0,3As0,64P0,36.

    Pentru un semi-

    conductor care are coefi-

    cientul de absorbie 5 110 cm (de exemplu: Ga As la 0 0,7 m ) dac

    zona de absorbie este a = 1m rezult:

    (cm-1)

    105

    104

    103

    102

    10

    0,4 0,8 1,2 1,6 0 (m)

    Ge

    SiGa As

    In0,

    7 G

    a 0,3 A

    s 0,6

    4 P

    0,36

    Fig. 6.7 Dependena coeficientului de absorbie delungimea de und pentru unele semiconductoare

    folosite pentru fotodiode.

  • CAPITOLUL 6

    __________________________________________________________________ 193

    1e1e1 10a

    Rezult, deci, necesitatea ca zona de sarcin spaial s fie ct mai

    mare, ceea ce este n concordan cu tensiunea invers mare aplicat

    structurii pentru liniaritatea rspunsului.

    O zon de sarcin spaial ntins asigur i un rspuns n frecven

    bun, absolut necesar n condiiile n care fibrele optice asigur debite de zeci

    de Gbit/s. Pentru a asigura o vitez de rspuns mare generarea perechilor de

    purttori trebuie s aib loc n regiunea de sarcin spaial unde cmpul

    imprimat de aproximativ 2104 V/m asigur o vitez mare purttorilor (de

    exemplu n Siliciu cu viteza de drift de aproximativ 107cm/s, o zon de

    10m este tranzitat n mai puin de 10 ps. Purttorii de sarcin generai de

    fotoni n regiunile neutre difuzeaz cu vitez mic afectnd rspunsul n

    domeniul timp (pe distana de 10m purttorii difuzeaz n Siliciu n

    aproximativ 40ns).

    Din punctul de vedere al vitezei de rspuns zona de sarcin spaial

    trebuie s fie ct mai ntins, astfel nct, s genereze n aceast zon

    perechi electron-gol. Acest deziderat poate fi ndeplinit pe dou ci:

    - o tensiune invers ct mai mare n valoare absolut care mrete

    dimensiunea zonei de sarcin spaial (n acelai timp mbuntind i

    liniaritatea rspunsului);

    - dotarea ct mai slab a zonei semiconductoare n care se ntinde

    sarcina spaial la limit chiar folosirea unui strat intrinsec ntre zonele

    neutre p i n (fotodiodele pin).

    Funcionarea n frecven a fotodiodelor este de asemenea limitat de

    valoarea constantei de timp RC

    jonct . LR R R

    0 ACW

    unde Rjonct. - rezistena jonciunii;

  • CAPITOLUL 6

    194 ____________________________________________________________________

    A suprafaa zonei de sarcin spaial;

    Pentru micorarea constantei de timp se lucreaz cu rezistene de

    sarcin mici (RL aproximativ 25 50 ), cu tensiuni de polarizare invers

    mari (w mare) i cu suprafee A ct mai mici ( tehnologii de fabricaie

    MESA).

    6.4 Structuri de fotodiode pe siliciu i pe

    monocristale AIII BV

    Primele structuri de fotodiode

    au fost realizate pe Siliciu pentru

    fereastra 1 a comunicaiilor pe fibr

    optic.

    Pe substrat n+ se crete

    epitaxial stratul intrinsec n care se

    difuzeaz zona p+. Zona de sarcin

    spaial cuprinde stratul foarte subire p+ i aproape n ntregime stratul

    intrinsec (lrgimea acestei zone w=2050m).

    Datorit lrgimii mari a benzii

    interzise (1,1 eV) caracteristica spectral

    a unei fotodiode pe Siliciu (figura 6.9)

    are maximul la aproximativ 0,85 m cu

    SM = 0,5 0,6 A/w.

    Pentru ferestrele 2 i 3 ale fibrei

    optice din SiO2 se folosete

    semiconductoarele AIII BV ternare sau

    cuaternare.

    i

    0 AR-

    +

    n+substrat

    p+ difuzat

    Fig. 6.8 Structura unei fotodiode pe Siliciu

    i

    S

    0,7

    SM

    0,8 0,9 1 0(m)

    Fig. 6.9 Caracteristica spectral a

    unei fotodiode pe Siliciu

  • CAPITOLUL 6

    __________________________________________________________________ 195

    n figura 6.10 sunt prezentate

    lrgimile benzii interzise ale

    compusului Gax In1-x Asy P1-y.

    Pentru fereastra 2 (0 = 1,3 m)

    trebuie folosit o compoziie cu

    iW 0,955eV , iar pentru fereastra

    3 (0 = 1,5 m) o compoziie cu

    iW 0,822eV .

    n figura 6.11 sunt

    prezentate dou structuri de

    fotodiode AIII BV, ambele

    pornind de la un substrat

    n+InP. Zona de sarcin

    spaial cuprinde stratul

    foarte slab dotat n

    (pentru

    semiconductoarele AIII BV se

    obin tehnologic foarte greu

    zone intrinseci). Datorit

    substratului transparent de

    InP fasciculul de fotoni

    poate ptrunde n fotodiod

    att prin partea superioar,

    ct i prin cea inferioar a

    structurii.

    Varianta MESA,

    avnd o suprafa A a zonei

    01AR

    -

    +

    Fig. 6.11 Structuri de fotodiode AIII BV :

    a varianta planar;

    b varianta MESA.

    AR02

    a

    n+ In P (substrat)

    p+n In Ga As

    n- In Ga As (zona

    de sarcin spaial)

    n In P (buffer)

    +AR

    02

    -01AR

    n+ In P (substrat)

    p+ In Ga As P

    n- In Ga As (zona

    de sarcin spaial)

    b

    Fig. 6.10. Lrgimea benzii interzise a

    semiconductorului Gax In1-x Asy P1-y

    0,5

    0,5

    1

    1 xInP

    GaP

    Ga AsIn As

    0,6

    eV

    0,8

    eV

    1 e

    V

    1,4

    eV

    1,8

    eV

    y

  • CAPITOLUL 6

    196 ____________________________________________________________________

    de sarcin spaial mai mic poate funciona la frecvene modulatoare mari

    (zeci de Gbit/s).

    6.5 Fotodiode cu avalane

    Fotodiodele sunt generatoare de curent, iar datorit valorii mici a

    rezistenei RL (pentru a obine viteze mari), tensiunea de ieire este mic

    necesitnd amplificare destul de puternic.

    Din acest motiv este normal dorina de amplificare a semnalului

    electric prin multiplicarea n avalan a purttorilor generai de fluxul de

    fotoni.

    n acest scop, dispozitivul trebuie s conin o regiune cu cmp

    electric foarte intens pentru multiplicarea n avalan a purttorilor de

    sarcin fotogenerai. O structur posibil este reprezentat n figura 6.12.

    Zona p este o zon ngropat obinut obinuit prin implantare

    ionic.

    Pentru a obine o uniformitate a multiplicrii n avalan a

    purttorilor trebuie asigurat un cmp suficient de mare n materiale

    semiconductoare fr defecte.

    i

    0-

    +n+

    Fig. 6.12. Structura unei fotodiode pin cu avalan realizat pe Siliciu i

    distribuia cmpului electric pe verticala acestei structuri.

    AR

    p+

    p

    nn

    W

    z

    zona de

    drift

    zona de

    amplificare

    E

  • CAPITOLUL 6

    __________________________________________________________________ 197

    Cmpul n zona de drift trebuie s fie i el mare (pentru a obine un

    timp de tranzit mic), dar principala cdere de tensiune trebuie realizat pe

    zona pn+ care asigur multiplicarea n avalane.

    Factorul de multiplicare are expresia

    n

    str

    1M

    U1

    U

    (6.14)

    unde Ustr - tensiune de strpungere invers a structurii;

    n exponent empiric (n

  • CAPITOLUL 6

    198 ____________________________________________________________________

    F M -factorul de zgomot n exces depinznd de caracteristica

    jonciunii.

    La folosirea fotodiodelor cu multiplicare n avalane nu trebuie

    neglijat faptul c din dorina unui

    factor de multiplicare ct mai mare

    se lucreaz aproape de tensiunea de

    strpungere. Dei se folosesc inele

    de gard, iar driverele sunt pro-

    iectate cu grij, pericolul distrugerii

    fotodiodei prin strpungere rmne

    foarte mare.

    6.6 Celule solare

    Structura unei celule solare este prezentat n figura 6.15 mpreun

    cu caracteristica sa curent tensiune.

    Fasciculul de fotoni genereaz, n zona de sarcin spaial, perechi

    electroni-gol care sub aciunea cmpului intern E conduc la apariia unui

    potenial la borne.

    20

    F(M)

    W(m)

    10

    0 2 4 6 8

    Fig. 6.14 Dependena factorului de zgomot n exces de lrgimea zonei de sarcin spaial.

    M=100

    0 I

    AR

    RL

    U n

    i

    p

    I

    U

    VL

    IL arctg. RL

    Fig. 6.15. Structura unei celule solare i

    caracteristica sa curent-tensiune

  • CAPITOLUL 6

    __________________________________________________________________ 199

    n gol (I = 0) acest potenial are expresia 6.5

    LL

    s

    IkTV 1

    q I

    Energia generat n gol nu poate depi energia benzii interzise

    (figura 6.1,a):

    L iqV W

    Deci pentru Siliciu cu iW 1,1eV potenialul n gol VL nu poate

    depi aproximativ 1V pe celul. Pentru a obine poteniale mai mari

    celulele solare se nseriaz.

    Cel mai mare curent se obine n regimul de scurtcircuit (V = 0)

    situaie n care I = -IL.

    n regim de sarcin se urmrete pe caracteristica curent tensiune

    (figura 6.15) un punct de funcionare n cadranul IV pentru care se poate

    obine cea mai mare putere electric la ieire Pemax. . Se definete eficiena

    conversiei:

    emaxe

    0

    P

    Eficiena este cu att mai mare cu ct a1 R 1 e este mai

    mare.

    Primele celule solare au fost realizate pe Siliciu monocristalin, dar

    eficiena acestuia este n jur de 25% (cu lrgimea benzii interzise de1,1 eV

    acesta nu folosete pentru conversie dect fotonii cu 0 1,13 m ). n plus,

    preul de cost este mare mai ales atunci cnd pentru cureni mari sunt

    necesare panouri solare cu suprafee mari.

    Pentru scderea preului de cost se folosete Siliciul policristalin dar

    datorit densitii mari a defectelor eficiena de conversie scade la

    aproximativ 10% (Siliciul policristalin are lrgimea benzii interzise de

  • CAPITOLUL 6

    200 ____________________________________________________________________

    1,7eV, deci folosete din spectrul solar numai fotonii cu 0 0,73 m ).

    Un material semiconductor mult cercetat este Cu In Se2 cu lrgimea

    benzii interzise de 0,92eV (deci, folosind pentru conversie fotoni pn la

    lungimea de und 1,35m.

    Bine neles c o soluie foarte bun este utilizarea semicon-

    ductoarelor ternare sau cuaternare AIII BV , cu lrgimi ale benzii interzise

    mai mici, deci folosind mai eficient ntreg spectrul, ns preul de cost al

    acestora este prohibitiv deocamdat pentru bunuri de larg consum (se

    folosesc, n prezent, pentru spaiul cosmic prezentnd i o durat de via

    mult mai mare dect celulele solare pe siliciu).

    6.7 Bibliografie

    J. M. Senior. Optical Fiber Communications, New York,

    Prentice Hall, 1992, Cap. 10: Optical amplification and integrated optics, p.

    512-579.

    *** Ultrafast Pulse Amplification In: J. Select. Topics Quantum

    Electron, vol. 4, nr. 2, martie/aprilie 1998, p. 376-469.

    P. Vavelink i alii. Theoretical Analysis of the Photocurent

    Dark Decay in Photorefractive Media, In: IEEE J. Quantum Electron, vol.

    36, nr. 6, iunie 2000, p. 692-697.

    V. Boucher, A. Sharaiha. Spectral Properties of Amplified

    Spontaneous Emission in Semiconductor Optical Amplifiers, In: IEEE J.

    Quantum Electron, vol. 36, nr. 6, iunie 2000, p. 708-720.

    D. Cassioli i alii. A Time-Domain Computer Simulator of the

    Nonlinear Response of Semiconductor Optical Amplifier, In: IEEE J.

    Quantum Electron, vol. 36, nr. 9, septembrie 2000, p. 1072-1080.

  • CAPITOLUL 6

    __________________________________________________________________ 201

    D. Ban, E. H. Sayent. Influence of Nonuniform Carrier

    Distribution on the Polarization Dependence of Model Gain in

    Multiquantum-Well Lasers and Semiconductor Optical Amplifiers, In:

    IEEE J. Quantum Electron, vol. 36, nr. 9, septembrie 2000, p. 1081-1088.

    J. M. Tang i alii. Pump-Power Dependence of Transparency

    Characteristic in Semiconductor Optical Amplifiers, In: IEEE J. Quantum

    Electron, vol. 36, nr. 12, decembrie 2000, p. 1462-1467.

    E. S. Bjrlin i alii. Long Wavelength Vertical-Cavity

    Semiconductor Optical Amplifiers, In: IEEE J. Quantum Electron, vol. 37,

    nr. 2, februarie 2001, p. 274-281.

    S. Blaser i alii. Characterisation and Modeling of Quantum

    Cascade Laser Based on a Photon-Assistead Tunneling Transition In: IEEE

    J. Quantum Electron, vol. 37, nr. 3, martie 2001, p. 448-455.

    H. A. Hans. Optimum Noise Performance of Optical

    Amplifiers, In: IEEE J. Quantum Electron, vol. 37, nr. 6, iunie 2001, p.

    813-823.

    *** Ultrafast Phenomena and Their Applications, In: J. Select.

    Topics Quantum Electron, vol. 7, nr. 4, iulie/august 2001, p. 501-744.

    G. H. Duan, E. Georgiev. Non-White Photodetection Noise at

    the Output of an Optical Amplifier: Theory and Experiment, In: IEEE J.

    Quantum Electron, vol. 37, nr. 8, august 2001, p. 1008-1014.

    P. Vavelink i alii. An Electron-Hole Transport Model for the

    Analysis of Photorefractive Harmonic Gratings, In: IEEE J. Quantum

    Electron, vol. 37, nr. 8, august 2001, p. 1040-1049.

    J. Yu, P. Jeppesen. Increasing Input Power Dynamic Range of

    SOA by Shifting the Transparent Wavelength of Tunable Optical Filter, In:

    IEEE J. Lightwave Technol., vol. 19, nr. 9, septembrie 2001, p. 1316-1325.

  • CAPITOLUL 6

    202 ____________________________________________________________________

    M. Achtenhagen i alii. Gain and Noise in Ytterbium-Sensitized

    Erbium Doped Fiber Amplifiers: Measurements and Simulations, In: IEEE

    J. Lightwave Technol., vol. 19, nr. 10, octombrie 2001, p. 1521-1526.

    L. Occhi i alii. Intraband Gain Dynamics in Bulk

    Semiconductor Optical Amplifiers: Measurements and Simulations, In:

    IEEE J. Quantum Electron, vol. 38, nr. 1, ianuarie 2002, p. 54-60.

    E. S. Bjrlin, J. E. Bowers. Noise Figure of Vertical-Cavity

    Semiconductor Optical Amplifiers, In: IEEE J. Quantum Electron, vol. 38,

    nr. 1, ianuarie 2002, p. 61-66.

    E. V. Vanin i alii. Spectral Functional Forms for Gain and

    Noise Characterization of Erbium-Doped Fiber Amplifiers, In: IEEE J.

    Lightwave Technol., vol. 20, nr. 2, februarie 2001, p. 250-254.

    P. Royo i alii. Vertical Cavity Semiconductor Optical

    Amplifiers: Comparison of Fabry-Perot and Ratte Equation Approaches,

    In: IEEE J. Quantum Electron, vol. 38, nr. 3, martie 2002, p. 279-284.

    K. Dreyer i alii. High Gain Mode-Adapted Semiconductor

    Optical Amplifier with 12.4 dBm Saturation Output Power at 1550 nm, In:

    IEEE J. Lightwave Technol., vol. 20, nr. 4, aprilie 2002, p. 718-721.

    H. Shi. Performance Analysis on Semiconductor Laser

    Amplifier Loops Mirrors, In: IEEE J. Lightwave Technol., vol. 20, nr. 4,

    aprilie 2002, p. 682-688.

    A. Mosi i alii. 1.58 m Broad-Band Erbium-Doped Tellurite

    Fiber Amplifier, In: IEEE J. Lightwave Technol., vol. 22, nr. 5, mai 2002,

    p. 822-827.